Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
von: Jacopo Franco, Ben Kaczer, Guido Groeseneken
Springer-Verlag, 2013
ISBN: 9789400776630
187 Seiten,
Download: 14862 KB
Format: PDF
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geeignet für:
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Typ: B (paralleler Zugriff)
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